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Keynote :
고 신뢰성 반도체와 소프트에러
  • Jonathan Pellish, PhD.

  • NASA Electronic Parts Manager
    NASA Goddard Space Flight Center

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Session 1 :
C-ITS와 소프트에러가 미치는 영향
  • Kyeong-Pyo Kang

  • Ph.D. Researcher Fellow at the Korea Transport Institute (KOTI)

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Session 2 :
한국 가속 중성자 평가시설 현황과 동향
Session 3 :
Single Event Effect Basis
  • Raoul Velazco, PhD.

  • Université Grenoble Alpes Laboratoire TIMA Grenoble

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Session 4 :
한국 SEU R&D와 DRAM 소프트에러에 관한 테스트
Session 5 :
소프트에러의 현주소와 미래 R&D 방향