김정식 교수는 수치 시뮬레이션(TCAD : Technology Computer Aided Design)을 이용한 방사선 효과 분석 전문가입니다.
본 발표에서 DRAM, IGBT, 논리 트랜지스터(FinFET, nanosheet FET) 등 다양한 실리콘 트랜지스터에 미치는 방사선 영향에 대해 소개합니다.
실리콘 소프트 오류(Single Event Response)와 하드 오류(변위 손상)의 결과가 포함되며, 트랜지스터 레벨 TCAD 시뮬레이션 결과를 기반으로 실리콘 FET의 방사선에 의한 다양한 패턴을 소개합니다.

• How to model the radiation effect in numerical simulation
• Results of Soft-error (Single event response) in saddle-fin DRAM transistor, next-generation DRAM (vertical cell DRAM), logic transistor
• Results of Hard-error (Displacement defect) in logic transistor, IGBT power MOSFET

이호상 실장은 2000년에 AP위성에 입사하여 12년 동안 우주 응용을 위한 전자 장치 및 테스트 장비를 설계하고 신뢰도가 높은 EEE 엔지니어링 업무를 진행해 오고 있습니다. KOMPSAT(Korean Multi-Purpose Satellite) 프로젝트의 시스템 엔지니어였으며, CAS500(Compact Advanced Satellite 500kg)의 SBMU(Standard Bus Management Unit) 프로젝트의 매니저 역할을 수행하고 있습니다.

차세대 중형위성인 CAS500의 온보드 컴퓨터인 SBMU는 고용량, 고성능 및 치수 요구 사항을 만족하도록 설계되었습니다. 이를 위해 새로운 산업용 및 방사선 민감도 구성요소를 도입하여, 시험, 비행 모델에 대해 적용하여 선별하였습니다. 신뢰성 평가와 환경 요건 및 방사선 성능을 고려한 시험 및 선별 방법이 하드웨어 구성요소 수준에 대해 고려되었으며, 본 발표에서 CAS500의 고신뢰도와 우주항공을 위한 EEE 부품 선택 및 구성요소 테스트 및 평가 사례의 전략을 소개합니다.

• Introduction of On-Board Computer in space environment and CAS500 SBMU
• Reliability Assessment and EEE Selection
• Test Case of Industrial Part
• Test Case of Radiation-Sensitive Component

Jyotika Athavale는 NVIDIA의 기능 안전 분야 선임 기술 리더이며, Intel에서 수석 엔지니어 및 기능 안전 설계자의 경력을 보유하고 있습니다. 자동차, 운송 및 항공 안전 중요 시스템용 플랫폼 기술과 아키텍처에 대한 심층적인 기술 지식을 가진 인정받는 업계 전문가로, 소프트 오류 성능을 위한 방사선 효과 모델링에 대한 전문 지식을 갖추고 있습니다.
Jyotika는 기능 안전과 신뢰성 분야에서 국제 표준 활동을 주도하고 있습니다. 기능 안전 상호운용성에 관한 IEEE P2851 WG 표준을 담당하고 있으며, IEEE 컴퓨터학회 이사회 이사와 IEEE의 선임 멤버입니다

이번 발표에서 AV 시스템의 방사선에 대한 모델링, 측정 및 완화하는 데 필요한 기능 안전 환경, 요건 및 고려사항을 소개합니다. 기능 안전 성능, 빔 테스트 방법론 및 기술, SoC와 시스템 수준에서 필요한 완화에 대한 취약성 요소 모델의 역할이 포함됩니다. 또한 기능 안전 상호 운용성에 대한 IEEE P2851 표준 활동 및 기능 안전 표준 활동 내용을 소개합니다.

자동차 산업이 빠른 속도로 발전하고 있습니다. 메모리는 자율 주행의 핵심 활성화 요소 중 하나입니다.
차세대 자동화, 인포테인먼트 및 연결 수준을 달성하기위해 컴퓨팅 성능이 필요하며, 이는 메모리의 대역폭과 용량에 의해 제공될 수 있습니다. 교통 사고로 매년 100만 명 이상이 목숨을 잃고 있지만, 머지 않아 자율 주행과 다양한 안전 기능이 그 숫자를 크게 줄일 것으로 기대됩니다. SK하이닉스는 향후 자동차 운전경험의 품질과 신뢰성을 높이기 위해 검증된 메모리 파트너로서 고객의 요구사항을 고려하고 반영하면서 AEC Q100은 물론 ISO26262 기능안전까지 뛰어넘는 강력한 자격을 획득하기 위해 노력하고 있습니다.
이번 세션에서는 자동차 메모리 시장에 대한 SK하이닉스의 시각과 기능 안전 적용 측면에서 디자인 고려사항에 대해 소개합니다.

방사선 테스트 및 분석 전문가 입장에서 보면 디바이스의 방사선 테스트 요구가 증가하고 있으며, 시험을 위한 장치 유형이 다양하고, 시험이 그 어느 때보다 복잡해지고 있습니다. 자동차 산업은 친환경과 안전성을 강조하고 있으며, 이는 반도체 디바이스에 대한 방사선 테스트 요구사항 기술 변화의 원동력입니다.
이번 발표에서는 소프트 에러 테스트가 요구되는 다양한 표준의 현황, 테스트 수행 방법 및 데이터 분석, 업계의 변화를 효율적으로 관리하기 위해 중요한 문제가 무엇인지에 대한 4가지 핵심 사항을 소개합니다.

• Status of various standards requiring radiation test for commercial application
• How to perform a test for the reliable result
• How to analyze test data to minimize test errors
• What are the critical issues in the industry for radiation test

스티븐 웬더 박사는 로스 알라모스 국립 연구소의 알라모스 중성자 과학 센터(LANCE) 물리학과 기술 프로젝트 매니저입니다. 연구 관심사는 기초과학과 응용과학의 광범위한 문제를 다루기 위해 중성자를 사용하는 것이며, 최근 그의 관심사는 반도체 전자제품에서의 방사선 효과와 중성자 유도 고장의 반도체 소자를 시험하는 설비와 기술을 개발하는 것입니다. 지상 중성자 시험을 위한 LANSCE 시설을 개발 및 운영했으며 항공기 고도에서 열 중성자 및 기타 입자를 위한 검출기를 개발해 왔습니다.
> 1968년 뉴욕 시립 대학에서 BS 학위를, 1973년 아이오와 대학교에서 물리학 박사 학위를 받았습니다. 그는 캐나다 맥 마스터 대학교, 듀크 대학교/트라이앵글 대학교 핵 연구소, 스웨덴에서 근무했으며, 미국 물리학회의 멤버로 활동하고 있습니다.
반도체는 현대 생활의 모든 측면에서 사용되며, 이러한 반도체 소자의 신뢰성은 중요한 관심사로써, 응용 가능성과 성능에 제한을 줄 수도 있습니다. LANSCE는이 문제의 여러 측면, 특히 지상 중성자로부터의 단일 이벤트 효과(Single Event Effect)의 테스트 및 특성화에 효과적으로 사용할 수 있는 활용성이 뛰어난 방사선 소스입니다.이번 발표에서 방사선 효과에 대한 새로운 기능에 대해 논의하고 LANSCE 기능이 현재 사용되고 있는 여러 영역과 LANSCE가 시설을 확장 및 업그레이드하여 역할을 확장 할 수 있는 분야들을 설명합니다.

미국 실리콘밸리에서 35년 이상의 업무 경험을 보유하고 있으며 큐알티㈜에 합류하기 이전 14년간 Cisco System에서 회사 전반적으로 SEU(Single Event Upset) 완화 프로세스 수립 및 ASIC DFT 그룹의 관리를 수행하며 다양한 DFT 기술을 개발하였습니다. 이 중 AC JTAG 기술은 ‘IEEE Std. 1149.6 – Boundary-Scan Testing of Advanced Digital Networks’ 표준으로 등재되어 있습니다. 또한 IEEE와 JEDEC의 워킹 그룹 멤버로써 다양한 테스트와 SEU 표준 제정 활동에 참여하고 있습니다.
지난 2년간 모든 국가에서 사회적, 경제적으로 어려움을 겪었습니다. 자동차 반도체 업계가 직면한 기술적 과제는 두 가지로, 첫 번째는 친환경 전기 자동차에 대한 자동차 산업의 기술적 전환에 대한 필요 요건을 충족하는 것이고 두 번째는 새로운 소자 유형에 대한 기능 안전의 고신뢰성 요구 사항을 제공하는 것입니다. 방사선 평가의 필수 요구 사항, 소자의 다양성과 소자의 유형 및 소자 평가 요구 사항들이 증가하고 있습니다.
이번 발표는 반도체 산업계가 기술적 전환을 수행하는데 중요한 문제가 무엇인지를 설명하며, 소프트 오류 평가가 필요한 다양한 표준의 현 진행 사항, 평가 수행 및 평가 자료 분석 방법 등의 네 가지 핵심 내용을 소개합니다.