Camille Bélanger-Champagne은 박사 학위를 받았습니다. 스위스 CERN의 ATLAS 실험과 미국 Fermilab의 DZero 실험에 대한 연구로 스웨덴 웁살라 대학에서 실험적 고에너지 물리학을 전공했습니다.

McGill University의 박사후 연구원으로서 그녀는 헬싱키 물리학 연구소에 합류하기 전에 ATLAS 실험에 계속 기여했습니다. 그곳에서 그녀는 핵 안전 장치에 적용하기 위한 탐지기의 설계 및 테스트를 담당했습니다.

2018년부터 그녀는 TRUMF 방사선 조사시설 PIF 및 NIF의 코디네이터입니다. 그 역할에서 그녀는 검출기 시스템에 대한 전문 지식과 입자 빔 사용자로 서의 자신의 경험을 사용하여 방문사용자 팀을 지원하여 TRUMF 양성자 및 중성자 빔을 사용한 방사선 신뢰성 테스트의 모든 측면을 지원합니다. 그녀는 또한 고해상도 및 빠른 선량 측정과 관련된 다양한 연구 주제에 관심이 있습니다.

Dale McMorrow (IEEE멤버'06)는 학사 학위를 받았습니다. 1979년 Spring Hill College, Mobile, AL에서 화학 학위 및 Ph.D. 1984년 탤러해시에 있는 플로리다 주립 대학에서 물리 화학 학위를 받았습니다. 캐나다 온타리오주 토론토에 있는 토론토 대학에서 박사후 과정을 마친 후 1988년 12월부터 워싱턴 DC에 있는 해군 연구소의 기술 직원과 함께 일하고 있습니다.

그의 현재 연구 관심 분야에는 액체, 용액 및 유리의 분자간 역학 및 여기 상태 광물리 과정의 세부 사항을 조사하기 위한 초고속 비선형 광학 분광 기술의 사용, 시뮬레이션을 위한 레이저 기반 방법론의 개발, 특성화 및 적용이 포함됩니다. 마이크로 전자 장치 및 복잡한 집적 회로의 단일 이벤트 현상.
최근 강조점은 주기율표 III-V에 속한 반도체 소자의 단일 이벤트 응답을 담당하는 물리적 메커니즘의 특성화와 단일 이벤트 현상을 조사하기 위한 도구로서 2광자 흡수의 개발입니다.

그는 400개 이상의 관련 저널에 논문의 저자입니다. McMorrow 박사는 단일 이벤트 효과 심포지엄의 기술 의장과 IEEE NSREC(원자력 및 우주 방사선 효과 회의) 세션 의장을 역임했습니다. 구성 요소 및 시스템 회의에 미치는 영향 및 단일 이벤트 효과 심포지엄.
그는 미국 화학 학회, 미국 광학 학회 및 과학 진흥 협회의 회원입니다. 2003년 NSREC에서 최우수논문을 수상했습니다.

Richard Sharp (IEEE 선임 멤버)는 1986년 영국 엑서터 대학교에서 수학과 물리학 학사 학위를 받았고 2003년 영국 사우스햄튼 대학교에서 양극성 트랜지스터의 복사 효과에 관한 박사 학위를 받았습니다.

우주, 핵, 의료 및 고에너지 물리학 응용 분야 전반에 걸쳐 방사선 효과에 대한 30년 이상의 경험을 가진 Dr Sharp는 최근 문제에 직면해야 하는 모든 사용자에게 독립적인 방사선 테스트 조언 및 서비스를 제공하기 위해 현재 Radtest Ltd를 설립했습니다. 전리방사선에 의해 발생.

SEREEL2는 Radtest Ltd에서 개발 및 판매하는 레이저 단일 이벤트 효과 테스트 시스템의 브랜드입니다. 품질과 신뢰성이 SEREEL2의 핵심 기능으로, 반도체에 대한 입자 방사선의 영향을 시뮬레이션하기 위한 신뢰할 수 있는 장비에 대한 새로운 벤치마크를 설정했습니다.

김장렬 이사는 SK 하이닉스 아메리카 DRAM 테크놀로지 그룹의 DRAM 기술 마케팅 이사이자 팀장입니다.
SK하이닉스에서 15년 동안 근무했으며 DRAM 설계, 테스트 엔지니어링 및 제품 기획 경험이 있습니다. 6년 동안 SK 하이닉스 JEDEC 메모리 사양을 이끌었고 JEDEC 위원회, DRAM 기능 및 기능 의장을 역임했습니다. 그의 현재 초점은 DDR/LPDDR/GDDR/HBM 메모리 평가 및 설계/경로 찾기 미래 메모리 개념, Post DDRx, LPDDRx, HBMx 및 CXL Type3 메모리 확장과 같은 기술입니다.

기중식은 서울대학교 전자공학과에서 학사, 석사, 박사 학위를 각각 1981년, 1983년, 1994년에 취득하였다. 그는 1983년부터 2009년까지 지금의 SK하이닉스에 근무하면서 DRAM 개발 업무를 수행하였으며 DRAM 개발본부장과 DRAM 디자인 사업부장을 역임하였다. 이후 한양대학교에서 연구교수, 서울시립대학교에서 산학협력교수로 재직하면서 여러 국책과제를 수행하였다. 현재는 큐알티에서 단일 이벤트 효과 시험 및 분석 기술에 대한 개발 업무에 참여하고 있습니다.

정성수(IEEE Life Member~2018년)는 1978년 성균관대학교 전자공학과 졸업 학사 학위를 받았고 석사는 1984년 미국 플로리다주 멜번의 플로리다 공과대학에서 취득했습니다.
마지막 직장인 시스코 시스템즈에서는 10년 넘게 ASIC DFT 팀을 관리하였고 그곳에서 15년 이상을 근무하였습니다. 그는 방사선 유발 소프트 오류를 완화하기 위해 업계 최초의 전사적 SEU 테스트 및 완화 프로세스를 시스코 시스템즈에서 개발하고 운용하였습니다.

그는 2013년 7월부터 2016년 7월까지 한국의 한양대학교 연구교수로 잠시 합류하여 한국 정부의 두뇌 스카우트 프로그램의 일환으로 강의 및 연구를 수행했습니다. 정성수씨는 현재 큐알티 코리아에서 CTO로 근무하면서 단일 이벤트 효과 평가 및 분석 기술에 대한 R&D 활동을 이끌고 있습니다.

그는 17개의 미국 및 한국 특허를 보유하고 있으며 ASIC 평가기술, Design-for-Test 기술, 소프트 에러 평가 및 SEU 완화, 오류주입기술에서 60개 이상의 기술 논문 발표 및 학회 활동에 참여하고 있습니다.