| 시간 |
주제 |
연사 |
Presentation |
10:00~10:10
(10분) |
개회사 |
10:10~11:00
(50분) |
Key Note:
ISO2626 개정표준이 반도체 업계에 미치는 영향 |
기중식 박사
(큐알티 주식회사) |
Presentation Slide |
11:00~11:50
(50분) |
Session 1:
유럽 방사선 평가시설 및 연구동향 |
신훈규 교수
(포항공과대학교) |
Presentation Slide |
11:50~13:00
(70분) |
점심식사 |
13:00~13:50
(50분) |
Session 2:
단일 이벤트 천이 (SET)에 내성을 갖는 FinFET 회로설계를 위한
총이온화선량 (TID) 분석과 이온화 전류의 물리적 모델링 |
양지운 교수
(고려대학교) |
Presentation Slide |
13:50~14:40
(50분) |
Session 3:
반도체 소프트 에러 발생 빈도 계산방법 및 지상 시험 사례 |
이우준 선임
(한국항공우주연구원) |
Presentation Slide |
14:40~15:00
(20분) |
휴식 |
15:00~15:50
(50분) |
Session 4:
소프트에러 평가 보고서 및 데이터 해석 |
정성수 CTO
(큐알티 주식회사) |
Presentation Slide |
15:50~16:00
(10분) |
폐회사 및 경품추첨 |
