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프로그램안내
시간 주제 연사 Presentation
10:30~10:40
(10분)
개회사
10:40~11:20
(40분)
S1 Device for Space and
Automotive
실리콘 트랜지스터의 방사선에 의한 디바이스 열화
(Device Degradation due to Radiation on Silicon Transistors)
김정식 교수
(경상국립대학교, 한국)
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11:20~12:00
(40분)
위성 제어 시스템에 대한 신뢰성 평가 및 방사선 시험의 중요성
(The Importance of Reliability Evaluation and Radiation Test of Satellite Control System)
이호상 실장
(AP위성, 한국)
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12:00~13:00
(60분)
점심식사
13:00~13:40
(40분)
S2 Automotive Application :
Processor, Storage and
Power Device
AV 시스템에 대한 기능안전과 방사선 영향의 고려 사항
(Functional Safety and Radiation Effects Considerations for AV Systems)
Jyotika Athavale, PhD
(nVidia, USA)
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13:40~14:20
(40분)
DRAM과 SSD의 자동차 기능 안전 어플리케이션을 위한 설계 고려 사항
(Design Consideration for DRAM/SSD Automotive Functional Safety Application)
Keith Kim
(SK Hynix, USA)
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14:20~15:00
(40분)
자동차용 전력 반도체: 안전 작동영역(SOA)는 얼마나 안전한가
(Power Semiconductor for Automotive Application : How safe is SOA(Safe Operation Area)?)
기중식 박사
(큐알티주식회사, 한국 )
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15:00~15:20
(20분)
휴식
15:20~16:00
(40분)
S3 Device Radiation Test
and Analysis
성공적인 가속 중성자 평가를 위한 Los Alamos 사내 전문가의 가이드 라인
(Los Alamos In-House Expert’s Guideline for Successful Accelerated Neutron Test)
Steven Wender, PHD
(LANSCE, USA)
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16:00~16:40
(40분)
고속 질주하는 자동차 업계를 위한 소프트 에러 평가
(Soft Error Test for Fast Moving Automotive Industry)
정성수 CTO
(큐알티주식회사, 한국)
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16:40~16:50
(10분)
폐회식

* 본 프로그램은 내부 사정에 의해 변경될 수 있습니다.